Серия: Мир химии
Дисциплина: Аналитическая химия Физические методы исследования
Жанр: Научные монографии
Предисловие | 17 |
От автора | 18 |
Глава 1. Введение | 22 |
1.1. Историческая справка | 24 |
1.2. Преимущества инструментальной аналитики | 26 |
1.3. Спектроскопия | 29 |
1.4. «Ничто»: как его найти | 33 |
1.5. Тенденции развития аналитики объектов окружающей среды | 43 |
Глава 2. Взаимодействие между светом и материей | 50 |
2.1. Внутренние и внешние взаимодействия | 51 |
2.2. Абсорбционная и эмиссионная спектроскопия | 52 |
2.3. Атомная и молекулярная спектроскопия | 53 |
2.4. Условия возбуждения | 55 |
2.5. Классификация областей спектра | 57 |
2.6. Измерительные системы спектроскопии | 58 |
2.7. Количественный и качественный анализы | 61 |
2.8. Традиционный спектрометр | 64 |
Глава 3. Спектроскопия в УФ- и видимой областях спектра | 68 |
3.1. Классификация электронных переходов | 69 |
3.2. Теоретический расчет электронных переходов | 71 |
3.3. Разрешенные и запрещенные переходы | 76 |
3.4. Принцип измерения | 77 |
3.5. Измерение спектра | 82 |
3.6. Определение концентрации по окраске | 85 |
3.7. Многокомпонентный анализ | 86 |
3.8. Измерение по принципу двойной длины волн | 88 |
3.9. Разностные спектры | 90 |
3.10. Производные спектры | 91 |
3.11. Требования к современному спектрометру | 92 |
3.12. Диодные матрицы в спектроскопии УФ- и видимой областей | 94 |
3.13. Сопряжение со световодами | 102 |
3.14. Экспресс-тесты при исследовании воды | 105 |
3.15. Резюме и перспективы развития спектроскопии УФ- и видимой областей | 112 |
Глава 4. Флуорометрия | 116 |
4.1. Теоретические основы люминесценции | 116 |
4.2. Флуоресценция | 118 |
4.3. Фосфоресценция | 121 |
4.4. Параметры измерения при флуорометрии | 123 |
4.5. Флуоресцентные спектрометры | 126 |
4.6. Носители (держатели) проб | 133 |
4.7. Влияние температуры | 134 |
4.8. Флуоресценция, индуцированная лазерным излучением | 135 |
4.9. Флуорометрия с разрешением во времени | 136 |
4.10. Резюме и перспективы развития флуорометрии | 137 |
Глава 5. ИК-спектроскопия | 138 |
5.1. Историческая справка | 139 |
5.2. Принцип ИК-спектроскопии | 140 |
5.3. ИК-спектр | 142 |
5.4. Интерпретация спектров | 144 |
5.5. Приборы и оборудование для регистрации ИК-спектров | 154 |
5.6. Методы подготовки образцов | 162 |
5.7. ИК-спектроскопия отражения | 169 |
5.8. Фотоакустическая детектция | 183 |
5.9. ИК-микроскопия | 185 |
5.10. Совместное применение аналитических методов | 188 |
5.11. Применение ЭВМ в ИК-спектроскопии | 192 |
5.12. Резюме и перспективы развития ИК-спектроскопии | 193 |
Глава 6. Спектроскопия в ближней ИК-области | 196 |
6.1. Различия в спектроскопии ближней и средней ИК-области | 196 |
6.2. Спектрометр для ближней ИК-области | 198 |
6.3. Практическое применение спектроскопии в ближней ИК-области | 199 |
6.4. Резюме и перспективы развития спектроскопии в ближней ИК-области | 203 |
Глава 7. Спектроскопия комбинационного рассеяния | 205 |
7.1. Теоретические основы спектроскопии комбинационного рассеяния | 206 |
7.2. Правила отбора | 209 |
7.3. Спектрометр комбинационного рассеяния | 210 |
7.4. Практическое применение спектроскопии комбинационного рассеяния | 213 |
7.5. Резюме и перспективы развития спектроскопии комбинационного рассеяния | 214 |
Глава 8. Микроволновая спектроскопия | 216 |
8.1. Теория вращательных спектров | 217 |
8.2. СВЧ-спектрометр | 220 |
8.3. Практическое применение микроволновой спектроскопии | 221 |
8.4. Резюме и перспективы развития микроволновой спектроскопии | 224 |
Глава 9. Атомно-абсорбционная спектроскопия | 226 |
9.1. Историческая справка | 229 |
9.2. Общая характеристика метода | 230 |
9.3. Линейчатый спектр | 232 |
9.4. Атомно-абсорбционный спектрометр | 236 |
9.5. Лампы с полым катодом | 239 |
9.6. Процесс атомизации | 241 |
9.7. Помехи | 258 |
9.8. Фоновая абсорбция | 262 |
9.9. Аппаратурное оформление процесса | 277 |
9.10. Проточно-инжекционный анализ в атомно-абсорбционной спектрометрии | 284 |
9.11. Оснащение лаборатории атомно-абсорбционной спектрометрии | 294 |
9.12. Резюме и перспективы развития атомно-абсорбционной спектроскопии | 297 |
Глава 10. Атомно-флуоресцентная спектрометрия | 300 |
Глава 11. Атомная спектрометрия с плазмами | 303 |
11.1. Теоретические основы метода | 306 |
11.2. Образование плазмы | 309 |
11.3. Состав атомно-эмиссионого спектрометра с ИСП | 315 |
11.4. Оборудование для работы с ИСП | 326 |
11.5. Помехи при оптической эмиссионной ИСП-спектрометрии | 345 |
11.6. Стандартные растворы для атомно-эмиссионной спектрометрии | 352 |
11.7. Гидридная система | 352 |
11.8. Анализ твердых образцов | 353 |
11.9. Выбор спектрометра для элементного анализа | 358 |
11.10. Плазменная масс-спектрометрия | 363 |
11.11. Резюме и перспективы развития плазменной атомной спектрометрии | 372 |
Глава 12. Масс-спектрометрия | 376 |
12.1. Теоретические основы метода | 377 |
12.2. Природа масс-спектра | 378 |
12.3. Образование ионов | 381 |
12.4. Масс-спектрометры | 386 |
12.5. Резюме и перспективы развития масс-спектрометрии | 393 |
Глава 13. Спектроскопия ядерного магнитного резонанса | 395 |
13.1. Теоретические основы ЯМР-спектроскопии | 398 |
13.2. Химический сдвиг | 401 |
13.3. Спин-спиновое взаимодействие | 404 |
13.4. Регистрация ЯМР-спектров | 407 |
13.5. ЯМР-спектрометры | 411 |
13.6. Техника двойного резонанса | 417 |
13.7. Двухмерная ЯМР-спектроскопия | 419 |
13.8. Ядерный эффект Оверхаузера | 420 |
13.9. Практическое применение ЯМР-спектроскопии | 421 |
13.10. Резюме и перспективы развития ЯМР-спектроскопии | 427 |
Глава 14. Рентгенофлуоресцентный анализ | 430 |
14.1. Понятие рентгеновской флуоресценции | 432 |
14.2. Теоретические основы метода | 433 |
14.3. Характеристические спектральные линии | 437 |
14.4. Закон Мозли | 439 |
14.5. Возбуждение | 440 |
14.6. Поглощение рентгеновских лучей | 442 |
14.7. Рентгеновская трубка | 446 |
14.8. Рентгеновские спектрометры | 447 |
14.9. Рентгеновские детекторы | 451 |
14.10. Применение в химико-аналитических целях | 452 |
14.11. Рентгенофлуоресцентный анализ с полным внутренним отражением | 455 |
14.12. Измерение толщины слоя по методу рентгеновской флуоресценции | 458 |
14.13. Новые разработки в рентгеновской спектрометрии | 468 |
14.14. Резюме и перспективы развития рентгенофлуоресцентного анализа | 469 |
Глава 15. Методы анализа поверхности | 474 |
15.1. Методы анализа поверхности | 476 |
15.2. Рентгеновский микроанализ с дисперсией по энергии | 479 |
15.3. Индуцированная протонами рентгеновская эмиссия | 483 |
15.4. Оже-электронная спектроскопия | 483 |
15.5. Электронная спектроскопия для химического анализа | 487 |
15.6. Масс-спектрометрия вторичных ионов | 491 |
15.7. Спектроскопия ионного рассеяния | 493 |
15.8. Микроскопия с растровыми зондами | 494 |
Глава 16. Заключение | 504 |
Литература | 507 |
Дополнительная литература | 519 |
Список фирм | 523 |
Отзывы: нет |
© 2001–2022, Издательство «Директ-Медиа» тел.: 8-800-333-68-45 (звонок бесплатный), +7 (495) 258-90-28 manager@directmedia.ru